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2024Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 200-203academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 12, S. 1930-1934KonferenzZugriff:
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In: ISSN: 0022-247X, 2018academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0022-247X, 2016academicJournalZugriff: