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  1. Ciez, Rebecca E. ; Whitacre, J.F. ; et al.
    In: Journal of Power Sources ; volume 340, page 273-281 ; ISSN 0378-7753, 2017
    academicJournal
  2. Ciez, Rebecca E. ; Whitacre, J.F. ; et al.
    In: Journal of Power Sources ; volume 320, page 310-313 ; ISSN 0378-7753, 2016
    academicJournal
  3. Whitacre, Jay ; Ciez, Rebecca E.
    In: Journal of Power Sources, Jg. 340 (2017-02-01), S. 273-281
    Online unknown
  4. Whitacre, Jay ; Ciez, Rebecca E.
    In: Journal of Power Sources, Jg. 320 (2016-07-01), S. 310-313
    Online unknown
  5. Pruszowski, Z. ; Ciez, M.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014), S. 200-203
    Online unknown
  6. Cież, M. ; Pruszowski, Zbigniew ; et al.
    In: Microelectronics International, Jg. 26 (2009-05-08), S. 24-27
    Online unknown
  7. Pruszowski, Z. ; Ciez, M.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 54, issue 1, page 200-203 ; ISSN 0026-2714, 2014
    academicJournal
  8. Piotr J Thor ; Lipiński, M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005-12-01), S. 1930-1934
    Online unknown
  9. Gregorczyk, Wojciech ; Thust, Heiko ; et al.
    In: Microelectronics International, Jg. 16 (1999-12-01), S. 46-53
    Online unknown
  10. Pruszowski, Z. ; Kowalik, P. ; et al.
    In: Microelectronics International ; volume 26, issue 2, page 24-27 ; ISSN 1356-5362, 2009
    academicJournal
  11. Nowak, S. ; Cież, M. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 15 (2007)
    Online unknown
  12. Zaraska, W. ; Thor, P. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 45, issue 12, page 1930-1934 ; ISSN 0026-2714, 2005
    academicJournal
  13. Dziurdzia, Barbara ; Nowak, Stanislaw ; et al.
    In: Microelectronics International ; volume 16, issue 3, page 46-53 ; ISSN 1356-5362, 1999
    academicJournal
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