Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
442.181 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

442.181 Treffer

Sortierung: 
  1. Zhang, Pengyu ; Gao, Shijie ; et al.
    In: 2023 IEEE 9th Intl Conference on Big Data Security on Cloud (BigDataSecurity), 2023-05-01, S. 181-186
    Konferenz
  2. Nishimura, Takuto ; Ichikawa, Yuya ; et al.
    In: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2023-05-01, S. 1-4
    Konferenz
  3. Shi, Zhan ; Li, Bo ; et al.
    In: 2023 8th International Conference on Intelligent Computing and Signal Processing (ICSP), 2023-04-21, S. 1664-1667
    Konferenz
  4. Chen, Z. ; Wu, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 31 (2023-08-01), Heft 8, S. 1234-1247
    Online academicJournal
  5. Kneip, A. ; Lefebvre, M. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-07-01), Heft 7, S. 1871-1884
    Online academicJournal
  6. Tu, F. ; Wu, Z. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-06-01), Heft 6, S. 1798-1809
    Online academicJournal
  7. Zang, Qibang ; Goh, Wang Ling ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023-05-21, S. 1-5
    Konferenz
  8. Wang, Wei-Chun ; Saligram, Rakshith ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
  9. Wang, S. ; Liang, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 2324-2328
    Online academicJournal
  10. Yamada, Ayumu ; Misawa, Naoko ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Konferenz
  11. Guo, Ruiqi ; Wang, Lei ; et al.
    In: 2024 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), Jg. 67 (2024-02-18), S. 362-364
    Konferenz
  12. Qing, Zou ; Yan, Bian
    In: 2022 3rd International Conference on Electronics, Communications and Information Technology (CECIT), 2022-12-01, S. 144-148
    Konferenz
  13. Liu, J. ; Tang, W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 620-633
    Online academicJournal
  14. Lin, Z. ; Tong, Z. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-05-01), Heft 5, S. 1472-1486
    Online academicJournal
  15. Chang, C. ; Chou, K. ; et al.
    In: IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems, Jg. 13 (2023-03-01), Heft 1, S. 21-32
    Online academicJournal
  16. Lo, Yun-Chen ; Liu, Ren-Shuo
    In: 2023 60th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2023-07-09, S. 1-6
    Konferenz
  17. Kanishkan, Vadivel ; Fernando, Garcia-Redondo ; et al.
    In: 2022 37th Conference on Design of Circuits and Integrated Circuits (DCIS), 2022-11-16, S. 1-6
    Konferenz
  18. Hu, Hongyang ; Wang, Zi ; et al.
    In: 2022 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 2022-11-11, S. 1-5
    Konferenz
  19. Wang, Yandong ; Li, Zhicheng ; et al.
    In: 2022 Global Reliability and Prognostics and Health Management (PHM-Yantai), 2022-10-13, S. 1-8
    Konferenz
  20. Yu, Chi ; Wu, Chaoyang ; et al.
    In: 2023 4th International Conference on Smart Grid and Energy Engineering (SGEE), 2023-11-24, S. 228-234
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -