Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
472 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

472 Treffer

Sortierung: 
  1. He, Wang ; Dayu, Zhang ; et al.
    In: 2019 IEEE 3rd International Conference on Circuits, Systems and Devices (ICCSD), 2019-08-01, S. 55-58
    Konferenz
  2. Zooker, D. ; Shalom, O.O. ; et al.
    In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 3 (2020), S. 146-149
    Online academicJournal
  3. Gao, Cheng ; Liu, Haitian ; et al.
    In: 2015 Prognostics and System Health Management Conference (PHM), 2015-10-01, S. 1-5
    Konferenz
  4. Xue, Yuan ; Cronin, Patrick ; et al.
    In: 2015 25th International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL), 2015-09-01, S. 1-8
    Konferenz
  5. Ayorinde, Oluseyi ; Qi, He ; et al.
    In: 2015 25th International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL), 2015-09-01, S. 1-7
    Konferenz
  6. 李文昌 万理 阮爱武 于敦山
    In: 微电子学与计算机 / Microelectronics & Computer, Jg. 31 (2014), Heft 1, S. 5
    academicJournal
  7. 李文昌 万理 阮爱武 于敦山
    In: 微电子学与计算机 / Microelectronics & Computer, 2014, Heft 1, S. 5
    academicJournal
  8. Wang, Yuanqi ; Shi, Kaichuang ; et al.
    In: 2023 IEEE 15th International Conference on ASIC (ASICON), 2023-10-24, S. 1-4
    Konferenz
  9. Amiri, Mohammad Amin ; Mahdavi, Mojdeh ; et al.
    In: 2008 International Conference on Nanoscience and Nanotechnology, 2008-02-01, S. 141
    Konferenz
  10. Kharchenko, V. ; Duzhyi, V. ; et al.
    In: East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2013), 2013-09-01, S. 1-5
    Konferenz
  11. Ben Dhia, Arwa ; Naviner, Lirida ; et al.
    In: 2012 19th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS 2012), 2012-12-01, S. 761-764
    Konferenz
  12. Jamuna., S ; Agrawal, V.K.
    In: 2012 International Conference on Devices, Circuits and Systems (ICDCS), 2012-03-01, S. 99-104
    Konferenz
  13. Garg, V. ; Chandrasekhar, V. ; et al.
    In: Proceedings of the ASP-DAC 2005. Asia and South Pacific Design Automation Conference, Jg. 2 (2005), S. 791-794
    Konferenz
  14. Sundar, E.S. ; Chandrasekhar, V. ; et al.
    In: Proceedings. 2004 IEEE International Conference on Field- Programmable Technology (IEEE Cat. No.04EX921), Field-Programmable Technology, 2004. Proceedings. 2004 IEEE International Conference on, Field-programmable technology, 2004, S. 121-128
    Konferenz
  15. Tung, Chia-Ching ; Rungta, Ruchi B. ; et al.
    In: 2009 International Conference on Field-Programmable Technology, 2009-12-01, S. 62
    Konferenz
  16. Itazaki, N. ; Matsuki, F. ; et al.
    In: Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98) (Cat. No.98TB100259), 1998, S. 272-277
    Konferenz
  17. Nedjah, N. ; de Macedo Mourelle, L.
    In: Proceedings 12th International Workshop on Rapid System Prototyping. RSP 2001, 2001, S. 174-179
    Konferenz
  18. Rohani, Alireza ; Zarandi, Hamid R.
    In: 2009 International Conference on Reconfigurable Computing and FPGAs, 2009-12-01, S. 83
    Konferenz
  19. Tohidi, Mohammad Mehdi ; Masoumi, Nasser
    In: 2010 3rd International Nanoelectronics Conference (INEC), 2010, S. 637
    Konferenz
  20. Matrosova, A. ; Loukovnikova, E. ; et al.
    In: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), 2007-09-01, S. 206
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -