Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
34 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

34 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Characterization of the Young's Modulus of CMOS Thin Films
    Hossain, N ; Ju, JW ; et al.
    In: Mechanical Properties of Structural Films, Jg. 2001 (2001), Heft 1413, S. 139-151
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Testing and Design of CMOS D-Latches
    Aissi, C ; Olaniyan, J ; et al.
    In: Journal of Testing and Evaluation, Jg. 25 (1997), Heft 1, S. 52-60
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Standard Guide for Viewing Systems for Remotely Operated Facilities
    2023
    Buch
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Standard Guide for Digital Detector Array Radiography
    2022
    Buch
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Standard Practice for Selection and Application of Piping System Materials
    2019
    Buch
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Effects of Gettering on Epi Quality for CMOS Technology
    Daniel Wong, C-C ; Borland, JO ; et al.
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 51-64
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Silicon Epitaxial Growth on N+ Substrate for CMOS Products
    Swaroop, RB ; Gupta, DC
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 65-78
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Standard Guide for Viewing Systems for Remotely Operated Facilities
    2018
    Buch
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Standard Guide for Digital Detector Array Radiography
    2017
    Buch
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Contribution of the Imaging System Components in the Overall Error of the Two-Dimensional Digital Image Correlation Technique
    Hijazi, A. ; Kähler, C. J. ; et al.
    In: Journal of Testing and Evaluation, Jg. 45 (2017-03-01), Heft 2, S. 369-384
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Standard Guide for Viewing Systems for Remotely Operated Facilities
    2013
    Buch
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Standard Guide for Digital Detector Array Radiology
    2010
    Buch
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Standard Guide for Viewing Systems for Remotely Operated Facilities
    2007
    Buch
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Statistical Evaluation of the Hydraulic Conductivity of Compacted Lateritic Soil
    Nwaiwu, CMO ; Osinubi, KJ ; et al.
    In: Geotechnical Testing Journal, Jg. 28 (2005-11-01), Heft 6, S. 586-595
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    An Intrinsic Gettering Process to Improve Minority Carrier Lifetimes in Mos and Bipolar Silicon Epitaxial Technology
    Borland, JO ; Kuo, M ; et al.
    In: Semiconductor Processing, Jg. 1984 (1984), Heft 850, S. 49-62
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Standard Practice for Minimum Geospatial Data for Representing Coal Mining Features
    2020
    Buch
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Standard Guide for Digital Neutron Radiography
    2023
    Buch
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Standard Practice for Geospatial Data for Representing Coal Mining Features
    2012
    Buch
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Standard Practice for Minimum Geospatial Data for Lands Unsuitable for Mining Petitions and Designated Areas (Withdrawn 2013)
    2010
    Buch
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
    2018
    Buch
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -