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    A Novel Approach to Characterize Commercial CMOS Image Sensors in the Search for Boron to Study Thermal Neutron-Induced Radiation Effects Invited Paper
    Espain, Maria Sol ; Perez, Martin ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 130-135
    Konferenz
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    Thin Gate Oxide CMOS DC-DC Buck Converter with Floating Gate Drivers
    Gak, Joel ; Marin, Jorge ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 120-123
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Low-Power 10-Bit VCM-Based SAR ADC with 15.4-fJ/conv in 65-NM CMOS
    Carvalho, Matheus B. S. ; dos Santos, Tawan Chrysther ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 109-114
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Low-Power 4-Bit 20-MS/s Flash ADC in 65-nm CMOS with Rail-to-Rail Comparators
    Dos Santos, Tawan Chrysther ; Girardi, Alessandro G. ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 103-108
    Konferenz
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    SiC CMOS Gate Driver for High-Temperature Aerospace Applications
    Torres, Felipe ; Martinez, Andres ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 99-102
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Novel Segmented SiPM Combined With Amplifiers on One Chip With Improved Single-Photon Timing Resolution in 0.35-μm CMOS
    Preitnacher, J. ; Ageev, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 301-308
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Characterization of a 28 nm CMOS Technology for Analog Applications in High Energy Physics
    Traversi, G. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 932-940
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Online Dark Count Rate Measurements in 150 nm CMOS SPADs Exposed to Low Neutron Fluxes
    Ratti, L. ; Brogi, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 698-709
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology
    Shen, F. ; Chen, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 793-801
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Research on Test Parameters of Ultra High Resolution CMOS Image Sensor Microsystems
    Tian, Yu ; Liu, Pei ; et al.
    In: 2023 2nd International Conference on Automation, Robotics and Computer Engineering (ICARCE), 2023-12-14, S. 1-5
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A 65-nm CMOS Millimeter-Wave Ear-Worn Non-Invasive Continuous Glucose Monitoring Chipset Using a 0.17mm2 72mW Transmitter and a 0.75mm2 80mW Direct-Conversion Receiver
    Niitsu, Kiichi ; Fukushima, Koki ; et al.
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-5
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Ultra-Low Power 60 GHz Class-C Frequency Tripler in 22-nm FDSOI CMOS Technology
    Gupta, Aditya ; Dietz, Marco ; et al.
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-5
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Design of Full Adder Circuits with Optimized Power and Speed Using CMOS Technique
    Rajput, Vishal ; Singh, Abhay Pratap ; et al.
    In: 2024 IEEE International Students' Conference on Electrical, Electronics and Computer Science (SCEECS), 2024-02-24, S. 1-5
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Comparison of Hysteresis margin and Hysteresis width Schmitt Trigger Oscillators using logic gates in 28nm CMOS Technology
    Lakhara, Nisha Kumari ; Trikey, Sukeshni
    In: 2024 IEEE International Students' Conference on Electrical, Electronics and Computer Science (SCEECS), 2024-02-24, S. 1-4
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Highly Reliable Nanoelectrothermal Non-Volatile Memory with CMOS-level Voltage and Low On-State Resistance
    Lee, Yong-Bok ; Choi, Pan-Kyu ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 525-528
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Q-Boosting Of Composite CMOS-MEMS Resonators By AC Current Low-Temperature Annealing
    Zope, Anurag A. ; Bhosale, Kalyani S. ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 561-564
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Bipolar-Biased Differential CMOS-MEMS CMUT
    Chen, Po-Chun ; Lin, Yu-Cheng ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 951-954
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Sub-1mm2 High Detection Capability PMUTS-on-CMOS Array for Ultrasound Images
    Ledesma, Eyglis ; Torres, Francesc ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 975-978
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Integration of Infrared Sensor and Pressure/Humidity/Temperature CMOS-MEMS Environmental Sensing Hub by Local Vacuum Packaging
    Huang, Yuanyuan ; Lin, Yu-Cheng ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 588-591
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Toward High-Bit-Rate CMOS-MEMS Resoswitches
    Lee, Cheng-Ming ; Liou, Ting-Jui ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 178-181
    Konferenz
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