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15.543 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Characterization of a 28 nm CMOS Technology for Analog Applications in High Energy Physics
    Traversi, G. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 932-940
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology
    Shen, F. ; Chen, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 793-801
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS-Compatible Dual-Column Linear Image Sensor With a Gain of 105 and Dynamic Range of 120 dB
    Jin, X. ; Gao, C. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 24 (2024-03-15), Heft 6, S. 7681-7689
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A 0.011%/V LS and −76-dB PSRR Self-Biased CMOS Voltage Reference With Quasi Self-Cascode Current Mirror
    Yu, K. ; Chen, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 1052-1056
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Electrical Stress on the CMOS Inverters Made by Junctionless Gate-All-Around Transistors
    Chang, W. ; Yang, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 2863-2868
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A High PSRR CMOS Voltage and Current Reference in One Circuit Without Amplifier for Low Power Applications
    Pathy, Ashutosh ; Zahra, Andleeb ; et al.
    In: 2023 International Conference on Microelectronics (ICM), 2023-12-17, S. 276-279
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    mm-Wave CMOS Device Optimization Design for Super-400 GHz fMAX with Impact of Technology Scaling and Layout Dependent Effects
    Guo, Jyh-Chyurn ; Wijaya, Adhi Cahyo ; et al.
    In: 2023 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), 2023-12-05, S. 246-249
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Bootstrapped Switch Based Efficient CMOS Full-Wave Active Rectifier for Biomedical Implants
    Alibakhshi, Mahmood ; Gozalpour, Farshad ; et al.
    In: 2023 5th Iranian International Conference on Microelectronics (IICM), 2023-10-25, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Single-Stage, High-Efficiency Bulk-Biased CMOS Rectifier for Wireless Bioelectronic Power Transfer Applications
    Pama, Christian Miguel ; Silverio, Angelito
    In: 2023 IEEE Region 10 Symposium (TENSYMP), 2023-09-06, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 27-to-65-GHz CMOS Amplifier with Tunable Frequency Response
    Xu, Leshan ; Yoshida, Takeshi ; et al.
    In: 2023 IEEE 15th International Conference on ASIC (ASICON), 2023-10-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A 0.4-V 8400-μm2 Voltage Reference in 65-nm CMOS Exploiting Well-Proximity Effect
    Che, C. ; Lei, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3822-3826
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A D-band Wideband Double-Balanced Source-Driven Up-Conversion Mixer in 40-nm CMOS
    Abe, Toshiaki ; Hara, Shinsuke ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT), 2023-08-14, S. 73-75
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Optimal Sizing of CMOS LC Voltage Controlled Oscillator by means of Genetic Algorithm
    Asmae, El Beqal ; Bachir, Benhala
    In: 2023 3rd International Conference on Innovative Research in Applied Science, Engineering and Technology (IRASET), 2023-05-18, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Damage Assessment Structure of Thermal-Annealing Post-Processing on CMOS LSIs
    Okamoto, Yuki ; Makimoto, Natsumi ; et al.
    In: 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023-03-27, S. 1-4
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits
    Cassani, M.V. ; Salomone, L. Sambuco ; et al.
    In: 2023 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2023-03-09, S. 41-45
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 20 nW +0.8°C/-0.8°C Inaccuracy (3σ) Leakage-Based CMOS Temperature Sensor With Supply Sensitivity of 0.9°C/V
    Li, J. ; Yao, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 3142-3153
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Sub-GHz CMOS SPDT Antenna Switch Employing Linearity-Enhanced Biasing Strategy for Second-Order Harmonic Reduction
    Lee, G. ; Oh, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 2774-2778
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A SiC 3D Power IC Directly Integrating a Power MOSFET With Its CMOS Gate Driver Using Flip Chip Bonding
    Yao, Atsushi ; Okamoto, Mitsuo ; et al.
    In: 2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2023-05-28, S. 44-47
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Low-Frequency Noise of 4H-SiC CMOS Technology for Analog ICs
    Masunaga, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-06-01), Heft 6, S. 3228-3233
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS Gate Driver with Integrated Ultra-Accurate and Fast Gate Charge Sensor for Robust and Ultra-Fast Short Circuit Detection of SiC power modules
    El Boubkari, Anas ; Rouger, Nicolas ; et al.
    In: 2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2023-05-28, S. 68-71
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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