Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
86 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

86 Treffer

Sortierung: 
  1. Pichumani, Pradip Sairam ; Khatkhatay, Fauzia
    In: Electronic device failure analysis, Jg. 22 (2020), Heft 1, S. 14-19
    Online serialPeriodical
  2. Pradip Sairam Pichumani ; Khatkhatay, Fauzia
    In: EDFA Technical Articles, Jg. 22 (2020-02-01), S. 14-19
    Online unknown
  3. Desplats, R. ; Beaudoin, F. ; et al.
    In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2001, S. 179-190
    Konferenz
  4. International, ASM
    In: ISTFA™ 2019 - Conference Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 10-14, 2019, Oregon Convention Center, Portland, Oregon USA; (2019)
    Online E-Book
  5. International, ASM
    In: ISTFA™ 2019 - Conference Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 10-14, 2019, Oregon Convention Center, Portland, Oregon USA; (2019)
    Online E-Book
  6. International, ASM
    In: ISTFA™ 2019 - Conference Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 10-14, 2019, Oregon Convention Center, Portland, Oregon USA; (2019)
    Online E-Book
  7. Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
    Online E-Book
  8. Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
    Online E-Book
  9. Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
    Online E-Book
  10. Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
    Online E-Book
  11. Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
    Online E-Book
  12. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 157 (2000-03-01), Heft 3, S. 83
    academicJournal
  13. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 172 (2014-06-01), Heft 6, S. 1
    academicJournal
  14. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 172 (2014-05-01), Heft 5, S. 1
    academicJournal
  15. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 164 (2006-11-01), Heft 11, S. 2
    academicJournal
  16. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 170 (2012-09-01), Heft 9, S. 1
    academicJournal
  17. In: Advanced Materials & Processes, Jg. 169 (2011-03-01), Heft 3, S. 1
    academicJournal
  18. International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
  19. International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
  20. Blackburn, J. ; Tipton, B. ; et al.
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -