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    DCG introduces meridian DBX.
    Wagner, Larry
    In: Electronic Device Failure Analysis, Jg. 17 (2015-02-01), Heft 1, S. 2
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    3.3.3 DBX vs. InGaAs Camera Comparison
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    3.3 DBX Characterization
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -