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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Compact Wideband Millimeter-Wave ESD Protection Device With Transformer-Embedded DCSCR
    Han, A. ; Liu, Y. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023-09-01), Heft 9, S. 1531-1534
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    A Physics-Based Model for Snapback-Type ESD Protection Devices
    Yan, X. ; Mousavi, S.M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 65 (2023-10-01), Heft 5, S. 1273-1281
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    Design of Dual-Directional SCR Structure With High Holding Voltage and Low Dynamic Resistance for High Voltage ESD Protection
    Do, K. ; Jung, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 4509-4517
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    기독교교육의 미래를 위한 ESD의 대안적 역할 고찰
    이효경 (Hyokyoung Lee)
    In: 기독교교육정보, Jg. 79 (2023-12-31), S. 69-91
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    Engineering Custom TLP I-V Characteristic Using a SCR-Diode Series ESD Protection Concept
    Variar, Harsha B ; Gautam, Satendra Kumar ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-5
    Konferenz
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  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Improved SEED Modeling of an ESD Discharge to a USB Cable
    Xu, Y. ; Zhou, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 65 (2023-06-01), Heft 3, S. 625-633
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Simulation of Distributed Systems in Constrained Environments Using ESDS: the Arctic Tundra Case
    Guegan, Loic ; Rais, Issam
    In: 2023 IEEE International Conferences on Internet of Things (iThings) and IEEE Green Computing & Communications (GreenCom) and IEEE Cyber, Physical & Social Computing (CPSCom) and IEEE Smart Data (SmartData) and IEEE Congress on Cybermatics (Cybermatics), 2023-12-17, S. 547-554
    Konferenz
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  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    ESD Challenges in 300nm Si Substrate of DTCO/STCO Scaling Options
    Chen, W. C. ; Chen, S. H. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    ESD HBM 3kV Discharge for Monolithic GaN-on-Si HEMTs Integrated Chips
    Wang, T. W. ; Go, C. L. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    ESD Reliability in Advanced Nodes
    Poon, Steven S. ; Kao, Ming-Hong ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    ESD Tolerance Improvement of Power Module using Clamp Diodes Built into Control IC
    Tadakuma, Toshiya ; Rogers, Michael ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    Superior Threshold-Voltage and On-Resistance Stability in GaN HEMTs Enabled by a Gate ESD Protection Circuit
    Wang, Bixuan ; Song, Qihao ; et al.
    In: 2023 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 2023-03-19, S. 661-666
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    Current Injection Effect on ESD Behaviors of the Parasitic Bipolar Transistors inside P+/N-well diode
    Wang, Hui ; Lai, Pengyu ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Extremely Large Breakdown to Snapback Voltage Offset $(\mathrm{V}_{\mathrm{t}1} > > \mathrm{V}_{\text{BD}})$: Another Way to Improve ESD Resilience of LDMOS Devices
    Mishra, Aakanksha ; Kumar, B. Sampath ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-5
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Endoscopic submucosal dissection (ESD) outcomes in T1B esophageal cancer: a retrospective study
    Youssef, Michael ; Hanna, Christina ; et al.
    In: Surgical Endoscopy: And Other Interventional Techniques, Jg. 38 (2024-05-01), Heft 5, S. 2817-2825
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    從學校效能到永續發展(ESD)校園：論校長如何以火線領導策略蘊生校園中的永續精神
    Yang), 楊明原(Ming-Yuan ; Yang), 楊慶麟(Ching-Lin
    In: 學校行政 / School Administrators Research Association,, Jg. 144 (2023-03-01), S. 104-125
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Physics-based Compact Model of N-Well ESD Diodes
    Huang, Shudong ; Rosenbaum, Elyse
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    Consideration Based on ESD Applied Waveform in High-Speed IF Using T-Coil
    Kano, Hideki ; Suzuki, Teruo
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    Understanding Temperature Dependence of ESD Reliability in AlGaN/GaN HEMTs
    Munshi, Mohammad Ateeb ; Ashraf Mir, Mehak ; et al.
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-5
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    CAD-Based ESD Design Methodology is Critical to Emerging Technologies (Invited)
    Pan, Zijin ; Hao, Weiquan ; et al.
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-10
    Konferenz
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