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    PMOS LDD Structure and Conditions for Wide Driving Range of Driving TFT
    전희철
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Development Trend of LDD Catalyst System for Reduction of Green-House Gas
    나승철
    In: 한국자동차공학회 Workshop, Jg. 2016 (2016-10-31), Heft 10, S. 77-93
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Accurate RF C-V Method to Extract Effective Channel Length and Parasitic Capacitance of Deep-Submicron LDD MOSFETs
    Lee, Sangjun ; Lee, Seonghearn
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 15 (2015-12-31), Heft 6, S. 653-656
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    LDD 대응 LNT 촉매의 탈황 특성에 관한 연구
    박은경 (EunKyung Park) ; 태지건 (JiGeon Tae) ; et al.
    In: 한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회, Jg. 2017 (2017-11-30), Heft 11, S. 243-243
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    n-MOSFET LDD 구조의 정전기 방전 시뮬레이션 ( Electrostatic Discharge Simulation in LDD n-MOSFET )
    차영호 ; 권태하 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1997 (1997-01-31), Heft 1, S. 43-47
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    N-MOSFET의 N-LDD 이온주입에 따른 역단채널효과 ( Effects of N-LDD Implantation on Reverse Short-Channel Behavior in n-MOSFET's )
    손정환 ; 허기재 ; et al.
    In: 대한전자공학회 워크샵, Jg. 1996 (1996-01-31), Heft 1, S. 31-34
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Deep 서브마이크론 LDD - nMOSFET 의 핫 - 캐리어 현상 억제를 위한 반경험적인 LDD 공정설계에 관한 연구 : A Study on Semi - Empirical LLD Process Design for Suppression of Hot - carrier Effects in Deep Submicron LDD - nMOSFETs
    안태형 / Tae Hyun An ; 김남훈 / Nam Hoon Kim ; et al.
    In: 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.) / Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, Jg. 12 (1999-03-01), Heft 3, S. 193-199
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구 : A Study on New LDD Structure for Improvements of Hot Carrier Reliability
    서용진 / Yong Jin Seo ; 김상용 / Sang Yong Kim ; et al.
    In: 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.) / Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, Jg. 15 (2002-01-15), Heft 1, S. 1-6
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of Hot-Carrier Induced Degradations in Hydrogernated LDD-TFT
    Ahn, Jeom-Young ; Lee, Jong-Hyung ; et al.
    In: ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications, Jg. 2006 (2006-06-30), Heft 6, S. 144-146
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화 모델 구현
    한승욱 (Seung-Uk Han) ; 안창근 (Chang-Geun Ahn) ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 2002 (2002-11-30), Heft 11, S. 395-397
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    LDD 구조를 가지는 n-채널 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 전기적 특성 분석 ( Analysis of the Electrical Characteristics on n-channel LDD structured poly-Si TFT's )
    김동진 ; 강창수
    In: 전자공학회논문지-IE, Jg. 37 (2000-06-30), Heft 2, S. 12-15
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    LDD NMOSFET의 Metallurgical 게이트 채널길이 추출 방법
    조명석 (Jo, Myung-Suk)
    In: 전기전자학회논문지, Jg. 3 (1999-07-31), Heft 1, S. 118-124
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    LDD 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 특성 : Characteristics of Polysilicon Thin Film Transistor with LDD Structure
    황한욱 ; 황성수
    In: 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.) / Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, Jg. 11 (1998-07-15), Heft 7, S. 522-526
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Impact of LDD Structure on Single-Poly EEPROM Characteristics
    Na, Kee-Yeol ; Rho, Mun-Woo ; et al.
    In: Journal of Electrical Engineering and Information Science, Jg. 3 (1998-06-30), Heft 3, S. 391-394
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    LDD구조를 갖는 n-채널 다결정 실리콘 TFT소자에서 수소처리의 영향
    장원수 (Wonsoo Chang) ; 조상운 (Sangwoon Jo) ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 2003 (2003-07-31), Heft 7, S. 1105-1107
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    LDD NMOSFET 에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구 ( A Study on The Increase of Series Resistance Due To Hot-carrier Trap in LDD NMOSFET )
    신덕준 ; 김재영 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1996 (1996-11-30), Heft 11, S. 1296-1298
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    LDD 구조를 가진 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 열화 특성의 분석
    정은식 (Eun Sik Jung) ; 배지철 (Ji Chel Bea) ; et al.
    In: 한국통신학회 학술대회논문집, Jg. 2002 (2002-11-30), Heft 11, S. 1700-1702
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Polysilicon Thin Film Transistor for Improving Reliability using by LDD Structure
    Jung, Eun-Sik ; Jang, Won-Su ; et al.
    In: ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications, Jg. 2002 (2002-07-31), Heft 7, S. 1052-1054
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    LDD 구조를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 향상
    정은식 (Eun-Sik Jung) ; 장원수 (Won-Su Jang) ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 2002 (2002-06-30), Heft 6, S. 185-187
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    LDD MOSFET의 파라메터 추출을 위한 자동 소자 파라메터 추출 시스템의 개발 ( Development of Automatic Device Parameter Extraction of LDD MOSFET )
    강유선 ; 김충원 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1995 (1995-11-30), Heft 11, S. 647-649
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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