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    LDE-UNet: A Novel Model for Rapid COVID-19 Diagnosis via CT Image Segmentation.
    Wang, QiSong ; Wu, JiaRou ; et al.
    In: BIBM, 2023, S. 2273-2276
    Konferenz
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    On Reducing LDE Variations in Modern Analog Placement.
    Thasreefa, A. K. ; Patyal, Abhishek ; et al.
    In: IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., Jg. 42 (2023), Heft 4, S. 1268-1279
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    LDES: detector design for version number attack detection using linear temporal logic based on discrete event system.
    Abhay Deep Seth ; Biswas, Santosh ; et al.
    In: Int. J. Inf. Sec., Jg. 22 (2023), Heft 4, S. 961-985
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    YARRRML + LDES: Simultaneously Lowering Complexity from Knowledge Graph Generation and Publication.
    Haesendonck, Gerald ; Ben De Meester ; et al.
    In: ISWC (Posters/Demos/Industry), 2023
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    High-Dimensional Many-Objective Bayesian Optimization for LDE-Aware Analog IC Sizing.
    Liao, Tuotian ; Zhang, Lihong
    In: IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., Jg. 30 (2022), Heft 1, S. 15-28
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Continuous generation of versioned collections' members with RML and LDES.
    Dylan Van Assche ; Sitt Min Oo ; et al.
    In: KGCW@ESWC, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Cε-LDE: A lightweight variant of differential evolution algorithm with combined ε constrained method and Lévy flight for constrained optimization problems.
    Wang, Wen-chuan ; Xu, Lei ; et al.
    In: Expert Syst. Appl., Jg. 211 (2023), S. 118644-118644
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An LDE-Aware gm/ID-Based Hybrid Sizing Method for Analog Integrated Circuits.
    Liao, Tuotian ; Zhang, Lihong
    In: IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., Jg. 40 (2021), Heft 8, S. 1511-1524
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Enabling Reproducibility and Meta-learning Through a Lifelong Database of Experiments (LDE).
    Tsay, Jason ; Bartezzaghi, Andrea ; et al.
    In: CoRR, Jg. abs/2202.10979 (2022)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Modified LDE for Dimensionality Reduction of Hyperspectral Image.
    He, Lei ; Yang, Hongwei ; et al.
    In: ICIG (3), 2019, S. 305-319
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    LDE-aware Analog Layout Migration with OPC-inclusive Routing.
    Torabi, Mohammad ; Zhang, Lihong
    In: ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., Jg. 25 (2020), Heft 6, S. 1-22
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Efficient Any Source Capacity-Constrained Overlay Multicast in LDE-Based P2P Networks.
    Maddali, Koushik ; Roy, Indranil ; et al.
    In: ANTS, 2018, S. 1-5
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    EA-Based LDE-Aware Fast Analog Layout Retargeting With Device Abstraction.
    Xuan Dong 0003 ; Zhang, Lihong
    In: IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., Jg. 27 (2019), Heft 4, S. 854-863
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fourth-, Fifth-, Sixth-Order Linear Differential Equations (LDEs) via Homotopy Perturbation Method Using Laplace Transform.
    Tripathi, Rajnee ; Hradyesh Kumar Mishra
    In: SocProS (2), 2017, S. 679-698
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Shortening the gap between pre- and post-layout analog IC performance by reducing the LDE-induced variations with multi-objective simulated quantum annealing.
    Ricardo Martins 0003 ; Nuno Lourenço 0003 ; et al.
    In: Eng. Appl. Artif. Intell., Jg. 98 (2021), S. 104102-104102
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Layout dependent BTI and HCI degradation in nano CMOS technology: A new time-dependent LDE and impacts on circuit at end of life.
    Ren, Pengpeng ; Wang, Runsheng ; et al.
    In: ICICDT, 2016, S. 1-3
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Practical electrical parameter aware methodology for analog designers with emphasis on LDE aware for devices.
    Chen, Hau-Yung ; Juan, Ming ; et al.
    In: VLSI-DAT, 2014, S. 1-4
    Konferenz
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    Face recognition based on Log-Gabor and uncorrelated LDE.
    Wang, Qingjun ; Zhang, Rubo
    In: ICNC, 2010, S. 2107-2111
    Konferenz
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    An Efficient LDE-Based Document Classification Algorithm.
    Wang, Ziqiang ; Sun, Xia
    In: PACCS, 2009, S. 571-574
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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