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    Quantification of a Ti(C<subscript> x </subscript>N<subscript>1−x </subscript>) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The characterisation of non-evaporable getters by Auger electron spectroscopy: analytical potential and artefacts
    Prodromides, A.E. ; Scheuerlein, C. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 191 (2002-05-17), Heft 1-4, S. 300-312
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Quantification of a Ti(CxN1-x) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    GUILLOT, J ; WIRTZ, T ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 256 (2009), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Auger electron spectroscopy measurement of electron attenuation lengths using multilayer systems
    Suzuki, M. ; Mogi, K. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 101 (1996-07-02), Heft 10, S. 51-55
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Slow oxidation kinetics in an epitaxial copper(1 0 0) film.
    Timalsina, Yukta P. ; Washington, Morris ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 363 (2016-02-15), S. 209-216
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Ion beam induced chemical and morphological changes in TiO2 films deposited on Si(1 1 1) surface by pulsed laser deposition.
    Mohanta, R.R. ; Medicherla, V.R.R. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 325 (2015-01-15), S. 185-191
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Auger electron depth profiling of the Cr/Al2O3 metallization system
    LU, H ; CUI, Y. D ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 103 (1996), Heft 2, S. 113-125
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Quantitative analysis of Auger lineshapes of oxidized iron
    SAULT, A. G
    In: Applied surface science, Jg. 74 (1994), Heft 3, S. 249-262
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Quantification of a Ti(C.sub.x N.sub.1-x ) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam.
    Park, Jong-Yong ; Jung, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-06-15), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    High-temperature Auger electron spectroscopy of Zircaloy-4
    Stojilovic, N. ; Bender, E.T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2005-12-15), Heft 5, S. 1806-1811
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Adhesion and interface chemical reactions of Cu/polyimide and Cu/TiN by XPS
    Lee, Won-Jun ; Lee, Youn-Seoung ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 205 (2002-01-31), Heft 1-4, S. 128-136
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Local atomic structure of the GaN-side of the Al2O3/GaN interface revealed by X-ray absorption spectroscopy.
    Isomura, Noritake ; Kikuta, Daigo ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 515 (2020-06-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    XPS characterization of transition metal oxalates.
    Chenakin, Sergey ; Kruse, Norbert
    In: Applied Surface Science, Jg. 515 (2020-06-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Determination of the interface region in multilayerSi/Moby Auger depth profile and factor analysis
    Morohashi, T. ; Hoshi, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 101 (1996-07-02), Heft 10, S. 84-88
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Intrinsic Auger signal profiles derived by Monte Carlo analysis
    Ding, Z. J. ; Shimizu, R. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 101 (1996-07-02), Heft 10, S. 15-19
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Quantification of a Ti(CxN1−x) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Wirtz, T. ; Girot, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-01), S. 773-778
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Oxidation upon segregation: Evaluation of chemical state of segregated species in polycrystalline Fe-Si-Al alloys by AES
    MANDRINO, Djordje ; PETROVIC, Darja Steiner
    In: Applied surface science, Jg. 289 (2014), S. 388-393
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Auger electron depth profiling of the metallization system
    Lu, Hua ; Shen, D.H. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 103 (1996-10-01), S. 113-125
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Auger electron spectroscopy measurement of electron attenuation lengths using multilayer systems
    Mogi, K. ; Suzuki, Mineharu ; et al.
    In: Applied Surface Science, 1996-07-01, S. 51-55
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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