Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
139 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

139 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Degradation of Ka-Band GaN LNA Under High-Input Power Stress: Experimental and Theoretical Insights
    Tong, Xiaodong ; Wang, Rong ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 66 (2019), Heft 12, S. 5091-5096
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Degradation of Ka-Band GaN LNA Under High-Input Power Stress: Experimental and Theoretical Insights
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 66 (2019), Heft 12, S. 5091-5096
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Degradation of Ka-Band GaN LNA Under High-Input Power Stress: Experimental and Theoretical Insights
    Zhang, Shiyong ; Tong, Xiaodong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5091-5096
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Impact of Correlated RF Noise on SiGe HBT Noise Parameters and LNA Design Implications
    Jia, Xiaojia ; Niu, Guofu
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 61 (2014), Heft 7, S. 2324-2331
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Impact of Correlated RF Noise on SiGe HBT Noise Parameters and LNA Design Implications
    Jia, Xiaojia ; Niu, Guofu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-07-01), S. 2324-2331
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Optimization of Channel Structures in InP HEMT Technology for Cryogenic Low-Noise and Low-Power Operation
    Cha, Eunjung ; Wadefalk, Niklas ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023), Heft 5, S. 2431-2436
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    X-band monolithic series feedback LNA
    Lehmann, R.E. ; Heston, D.D.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 32 (1985), Heft 12, S. 2729-2735
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Impact of AlGaN/GaN Interface and Passivation on the Robustness of Low-Noise Amplifiers
    Huang, Tongde ; Axelsson, Olle ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020), Heft 6, S. 2297-2303
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    GaN-Based Robust Low-Noise Amplifiers.
    Colangeli, Sergio ; Bentini, Andrea ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-10-01), Heft 10, S. 3238-3248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The Effect of Cryogenic Temperatures on the Lateral Heat Spreading in InGaAs/InP HEMTs
    Graziano, Giacomo ; Ferraris, Alberto ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 4087-4092
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    An Improved Noise Modeling Method Using a Quasi-Physical Zone Division Model for AlGaN/GaN HEMTs
    Mao, Shuman ; Xu, Ruimin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023), Heft 4, S. 1835-1842
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Two-Stage Ku -Band Graphene Low Noise Amplifier MMIC With Improved Fabrication Process.
    Yu, Cui ; He, Zezhao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-03-01), Heft 3, S. 1596-1599
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -