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  1. MISTRIK, Jan ; YAMAGUCHI, Tomuo ; et al.
    In: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004, Jg. 244 (2005), Heft 1-4, S. 431-434
    Konferenz
  2. Sánchez, F. ; Garcia-Cuenca, M. V. ; et al.
    In: Vacuum, Jg. 64 (2002), Heft 3/4, S. 337-341
    academicJournal
  3. LEE, Hsin-Yi ; LIU, Heng-Jui ; et al.
    In: Proceedings of the 32nd International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, May 2-6, 2005, Jg. 494 (2006), Heft 1-2, S. 325-329
    Konferenz
  4. KIM, Gwan-Ha ; KIM, Dong-Pyo ; et al.
    In: Proceedings of the joint meeting of the 7th APCPST (Asia Pacific Conference on Plasma Science and Technology) and the 17th SPSM (Symposium on Plasma Science for Materials), Fukuoka, Japan, June 29-July 2, 2004, Jg. 506-07 (2006), S. 217-221
    Konferenz
  5. LIANG, Yuan-Chang ; WU, Tai-Bor ; et al.
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 19-23, 2004, Jg. 469-70 (2004), S. 500-504
    Konferenz
  6. SHUHUI, YU ; KUI, YAO ; et al.
    In: 3rd Asian Meeting on Electroceramics, Jg. 30 (2004), Heft 7, S. 1253-1256
    Konferenz
  7. KIM, Kyoung-Tae ; KIM, Chang-Il
    In: Proceedings of the 30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 28-May 2, 2003, Jg. 447-48 (2004), S. 651-655
    Konferenz
  8. ZHANG, S. T ; TAN, W. S ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 701-707
    Konferenz
  9. ZHANG, X. J ; ZHANG, S. T ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 719-725
    Konferenz
  10. POLLAK, C ; REICHMANN, K ; et al.
    In: AOFA-11: Proceedings of the 11th Conference on Applied Surface Analysis, Leipzig, Germany, September 24-28, 2000, Jg. 179 (2001), Heft 1-4, S. 133-137
    Konferenz
  11. SEOKBEOM, KIM ; MAEDA, Toshihiko ; et al.
    In: Proceedings of the 13th international symposium on superconductivity (ISS 2000): advances in superconductivity XIII, Tokyo, Japan, October 14-16, 2000. Part II, Jg. 357-60 (2001), S. 979-982
    Konferenz
  12. ZHANG, X. D ; MENG, X. J ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 516 (2008), Heft 6, S. 919-924
    academicJournal
  13. POCUCA, M ; BRANKOVIC, G ; et al.
    In: Ceramics international, Jg. 34 (2008), Heft 2, S. 299-303
    academicJournal
  14. SANNIAN, SONG ; LINA, GAO ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 15, S. 4439-4443
    academicJournal
  15. YU, Y. H ; LAI, M. O ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 516 (2008), Heft 6, S. 907-911
    academicJournal
  16. LIN, C.-H ; HSU, W.-D ; et al.
    In: Proceedings of the Ninth International Conference on Solid Films and Surfaces, Copenhagen, Denmark, July 6-10, 1998, Jg. 142 (1999), Heft 1-4, S. 418-421
    Konferenz
  17. JIAGANG, WU ; JILIANG, ZHU ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 253 (2007), Heft 14, S. 6222-6225
    academicJournal
  18. KIM, Kyoung-Tae ; KIM, Chang-Il ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 515 (2007), Heft 20-21, S. 8082-8086
    academicJournal
  19. LIANG, ZHENG ; JUN, ZHU ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 252 (2006), Heft 10, S. 3609-3615
    academicJournal
  20. AIDONG, LI ; DI, WU ; et al.
    In: E-MRS Spring Conference, Symposium D: Thin Films Epitaxial Growth and Nanostructures, Jg. 336 (1998), Heft 1-2, S. 386-390
    Konferenz
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