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51 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Large area ashing process using an atmospheric pressure plasma
    Yoo, Seungryul ; Lho, Taihyeop ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 519 (2011-08-01), Heft 20, S. 6746-6749
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Study of the growth of CuAlS.sub.2 thin films on oriented silicon (111)
    Brini, R. ; Schmerber, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-02-02), Heft 7, S. 2191-2194
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Correlation of optical and photoluminescence properties in amorphous SiN.sub.x :H thin films deposited by PECVD or UVCVD
    In: Thin Solid Films, Jg. 511-512 (2006-07-26), S. 103-107
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Effects of the temperature and of the amount of Ge on the morphology of Ge islands grown by reduced pressure-chemical vapor deposition
    Hartmann, J.M. ; Bertin, F. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 479 (2005-05-23), Heft 1-2, S. 113-120
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Large area ashing process using an atmospheric pressure plasma
    Lho, Taihyeop ; Yong Cheol Hong ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 519 (2011-08-01), S. 6746-6749
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Sol–gel fabrication of thick multilayers applied to Bragg reflectors and microcavities
    Bellessa, Joel ; Plenet, Jean-Claude ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 416 (2002-09-01), S. 242-247
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Study of the growth of CuAlS 2 thin films on oriented silicon (111)
    Brini, R. ; Schmerber, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009), Heft 7, S. 2191-2194
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Correlation of optical and photoluminescence properties in amorphous SiN x:H thin films deposited by PECVD or UVCVD
    Lelièvre, J. F. ; De la Torre, J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 511 (2006), S. 103-107
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    LPE growth of textured single crystal silicon thin film for PV applications
    Fave, A. ; Berger, S. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 383 (2001-02-15), Heft 1-2, S. 209-211
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Temperature and excitation power dependencies of the photoluminescence of planar and vertically self-organized Si 0.70Ge 0.30/Si strained superlattices
    Bozzo, S ; Lazzari, J.-L ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 380 (2000), Heft 1, S. 130-133
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Resonant magnetic scattering of polarized X-rays at the Mn 2p edge from Mn 0.06Ge 0.94 diluted magnetic semiconductor
    De Padova, P. ; Perfetti, P. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2008), Heft 1, S. 428-429
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Correlation of optical and photoluminescence properties in amorphous SiNx:H thin films deposited by PECVD or UVCVD
    LELIEVRE, J.-F ; DE LA TORRE, J ; et al.
    In: Proceedings of Symposium F on Thin Film and Nanostructured Materials for Photovoltaics, EMRS 2005 Conference, Strasbourg, France, May 31-June 3, Jg. 511-12 (2006), S. 103-107
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    UV photoreflectance for wide band gap nitride characterization
    BRU-CHEVALLIER, C ; FANGET, S ; et al.
    In: Proceedings of Symposium M on Optical and X-Ray Metrology for Advanced Device Materials Characterization, Jg. 450 (2004), Heft 1, S. 75-78
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Self organization of Ge dots on Si substrates : influence of misorientation
    ABDALLAH, M ; BERBEZIER, I ; et al.
    In: E-MRS Spring Conference, Symposium D: Thin Films Epitaxial Growth and Nanostructures, Jg. 336 (1998), Heft 1-2, S. 256-261
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Improved thin film solar cell with Rayleigh scattering in porous silicon pipes
    SKRYSHEVSKY, V. A ; LAUGIER, A
    In: Thin solid films, Jg. 346 (1999), Heft 1-2, S. 261-265
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Study of the growth of CuAlS<subscript>2</subscript> thin films on oriented silicon (111)
    Brini, R. ; Schmerber, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-02-02), Heft 7, S. 2191-2194
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Correlation of optical and photoluminescence properties in amorphous SiN<subscript> x </subscript>:H thin films deposited by PECVD or UVCVD
    Lelièvre, J. F. ; De la Torre, J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 511-512 (2006-07-15), S. 103-107
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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