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653 Treffer

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    Altimeter as an Imager of the Sea Surface Roughness: Comparison of SAR and LRM Modes
    Tournadre, Jean ; Chaprono, Bertrand
    In: IGARSS 2020 - 2020 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium, 2020-09-26, S. 3541-3544
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Soil Treatment to Reduce Grounding Resistance by Applying Low-Resistivity Material (LRM) and Chemical Ground Electrode in Different Grounding Systems Configurations
    S, Freddy M. Sinchi ; P, Flavio A. Quizhpi ; et al.
    In: 2018 IEEE International Autumn Meeting on Power, Electronics and Computing (ROPEC), 2018-11-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Experimental Study of Remote Job Submission and Execution on LRM through Grid Computing Mechanisms
    Prajapati, Harshadkumar B. ; Shah, Vipul A.
    In: 2014 Fourth International Conference on Advanced Computing & Communication Technologies, 2014-02-01, S. 335-341
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    LRM: A Location Recombination Mechanism for Achieving Trajectory $k$ -Anonymity Privacy Protection
    Wang, Y. ; Li, M. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 182886-182905
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Reformulation and Stability Study of TRL and LRM Using $S$ -Parameters
    Stenarson, J. ; Yhland, K.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 57 (2009-11-01), Heft 11, S. 2800-2807
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Fast Battery EIS Measurement Using Flexible Local Rational Method
    De Angelis, A. ; Csurcsia, P.Z. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 73 (2024), S. 1-10
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Design and implementation of network interface module based on FT2000_4
    Lu, Yubo ; Ban, Shusheng ; et al.
    In: 2023 IEEE 6th International Conference on Information Systems and Computer Aided Education (ICISCAE), 2023-09-23, S. 279-282
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    LRM: A quantitative look at reference impedance contradictions and other uncertainty impacts
    Martens, J.
    In: 2007 69th ARFTG Conference, 2007-06-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    On-wafer LRM calibration technique using a non-reflecting lossy line of arbitrary length
    Reynoso-Hernandez, J.A.
    In: ARFTG 63rd Conference, Spring 2004, 2004, S. 205-210
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    On prediction of electric power damage by typhoons in each district in Kagoshima Prefecture via LRM and NN
    Takata, H. ; Nakamura, H. ; et al.
    In: SICE 2004 Annual Conference, Jg. 1 (2004), S. 781-786
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Key Control Points of LRM during the Establishment Process of an SME
    Wu, Guoqing
    In: 2010 International Conference on E-Product E-Service and E-Entertainment, 2010-11-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    LRL/LRM modifications for sinlified high frequency multiport/differential measurements
    Martens, J. ; Judge, D. ; et al.
    In: 64th ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2004, S. 147-156
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Empirical Transfer Function Estimation With Differential Filtering and Its Application to Fine Positioning Control of Galvano Scanner
    Maeda, Y. ; Iwasaki, M.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 10466-10475
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A reformulation of TRL and LRM for S-parameters
    Stenarson, J. ; Yhland, K.
    In: 2009 73rd ARFTG Microwave Measurement Conference, 2009-06-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    LRM: A Location Recombination Mechanism for Achieving Trajectory <inline-formula> <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math></inline-formula>-Anonymity Privacy Protection
    Wang, Yunfeng ; Li, Mingzhen ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 7 (2019), S. 182886-182905
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    F-22 CATS application to the thermal cycling stress screen of self-testing, liquid flow-through LRMs
    Nesson, R.
    In: Conference Record. AUTOTESTCON '96, 1996, S. 429-435
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Techniques for diagnosing line replaceable modules (LRMS) on automatic test equipment
    Barkley, J.S.
    In: Conference Record AUTOTESTCON '92: The IEEE Systems Readiness Technology, 1992, S. 241-248
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Facial Expression Animation by Landmark Guided Residual Module
    Wang, X. ; Wang, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Affective Computing, Jg. 14 (2023-04-01), Heft 2, S. 878-894
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    LRM: A Location Recombination Mechanism for Achieving Trajectory $k$ -Anonymity Privacy Protection
    Wang, Yunfeng ; Li, Mingzhen ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 182886-182905
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    At-speed verification technique for LRMs and PCBs
    Nagy, J.M.
    In: Conference Record AUTOTESTCON '91 IEEE Systems Readiness Technology Conference Improving Systems Effectiveness in the Changing Environment of the '90s, 1991, S. 211-215
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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