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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 619-623Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 9, S. 4950-4957Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 3, S. 1532-1537Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 66 (2019), Heft 11, S. 4764-4767Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 66 (2019), Heft 10, S. 4216-4220Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-11-01), Heft 11, S. 4764-4767Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 3577-3581Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 63 (2016), Heft 6, S. 2391-2397Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 61 (2014), Heft 7, S. 2454-2458Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2391-2397Online academicJournalZugriff: