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In: IEEE transactions on reliability, Jg. 46 (1997), Heft 1, S. 31-37Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on reliability, Jg. 40 (1991), Heft 2, S. 140-145Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on reliability, Jg. 40 (1991), Heft 2, S. 146-151Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on reliability, Jg. 39 (1990), Heft 1, S. 102-105Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on reliability, Jg. 42 (1993), Heft 1, S. 97-99Online academicJournalZugriff:
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Dynamic life-estimation of CMOS ICs in real operating environment: precise electrical method and MLEIn: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 46 (1997-03-01), S. 31-37Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 40 (1991-06-01), S. 146-151Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 40 (1991-06-01), S. 140-145Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 39 (1990-04-01), S. 102-105Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 42 (1993-03-01), S. 97-99Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 37 (1988-06-01), S. 230-233Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 38 (1989), S. 355-357Online unknownZugriff:
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