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    Current advances on Talbot–Lau x-ray imaging diagnostics for high energy density experiments (invited).
    Valdivia, M. P. ; Perez-Callejo, G. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 93 (2022-11-01), Heft 11, S. 1-9
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Talbot-Lau x-ray deflectometer: Refraction-based HEDP imaging diagnostic.
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 92 (2021-06-01), Heft 6, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Implementation of a Talbot–Lau x-ray deflectometer diagnostic platform for the OMEGA EP laser.
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 91 (2020-02-01), Heft 2, S. 1-9
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Talbot-Lau x-ray deflectometer electron density diagnostic for laser and pulsed power high energy density plasma experiments (invited).
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 87 (2016-11-01), Heft 11, S. 11D501-1- (6S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading.
    Fan, D. ; Lu, L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-11-01), Heft 11, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Current advances on Talbot–Lau x-ray imaging diagnostics for high energy density experiments (invited)
    Valdivia, M. P. ; Perez-Callejo, G. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 93 (2022-11-01), S. 115102-115102
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading
    Fan, D. ; Lu, L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-11-01), S. 113902-113902
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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