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    Talbot-Lau x-ray deflectometer: Refraction-based HEDP imaging diagnostic
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    2024
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Current advances on Talbot–Lau x-ray imaging diagnostics for high energy density experiments (invited)
    Valdivia, M. P. ; Perez-Callejo, G. ; et al.
    In: http://xfel.tind.io/record/3060, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Current advances on Talbot–Lau x-ray imaging diagnostics for high energy density experiments (invited)
    Valdivia, M. P. ; Perez-Callejo, G. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments ; volume 93, issue 11 ; ISSN 0034-6748 1089-7623, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Current advances on Talbot–Lau x-ray imaging diagnostics for high energy density experiments (invited)
    Valdivia, M. P. ; Perez-Callejo, G. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 93 (2022-11-01), S. 115102-115102
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Talbot-Lau x-ray deflectometer: Refraction-based HEDP imaging diagnostic
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments ; volume 92, issue 6 ; ISSN 0034-6748 1089-7623, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Implementation of a Talbot–Lau x-ray deflectometer diagnostic platform for the OMEGA EP laser
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments ; volume 91, issue 2 ; ISSN 0034-6748 1089-7623, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Talbot-Lau x-ray deflectometer electron density diagnostic for laser and pulsed power high energy density plasma experiments (invited)
    Valdivia, M. P. ; Stutman, D. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments ; volume 87, issue 11 ; ISSN 0034-6748 1089-7623, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading
    Fan, D. ; Lu, L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments ; volume 85, issue 11 ; ISSN 0034-6748 1089-7623, 2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading
    Fan, D. ; Lu, L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-11-01), S. 113902-113902
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -