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  1. BELGNAOUI, Youssef
    In: Contrôles Essais Mesures, 2021-09-01, Heft 76, S. 97-97
    Online serialPeriodical
  2. In: Electroniques, 2017-06-01, Heft 83, S. 42-42
    Online serialPeriodical
  3. Y., B.
    In: Contrôles Essais Mesures, 2016-11-01, Heft 57, S. 125-125
    Online serialPeriodical
  4. Miel, Rhoda
    In: Plastics News, Jg. 19 (2007-08-06), Heft 23, S. 36-36
    Online serialPeriodical
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  5. Uxa, Štepán ; Belas, Eduard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-22), Heft 5, S. 2402-2408
    Online academicJournal
  6. In: Electronics Weekly, 2022-01-26, Heft 2806, S. 24-24
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  7. In: Military & Aerospace Electronics, Jg. 27 (2016-12-01), Heft 12, S. 30-30
    Online serialPeriodical
  8. In: Electronics Weekly, 2016-10-12, Heft 2683, S. 12-12
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  9. WONG, WILLIAM
    In: Electronic Design, Jg. 63 (2015-08-01), Heft 8, S. 28-28
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  10. Cattaneo, A ; Davanzo, R ; et al.
    In: Lancet, Jg. 344 (1994-11-05), Heft 8932, S. 1304-1305
    Online academicJournal
  11. Lardière, Cédric
    In: Mesures, 2015, Heft 871, S. 12-12
    Online serialPeriodical
  12. Grill, R. ; Franc, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-22), Heft 5, S. 2383-2391
    Online academicJournal
  13. Bugar, Marek ; Belas, Eduard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-08-01), Heft 4, S. 1942-1948
    Online academicJournal
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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