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    A Hierarchical Test Generation for Asynchronous Circuits
    Oh, Eunjung ; Kim, Soo-Hyun ; et al.
    In: ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications, Jg. 2002 (2002-07-31), Heft 7, S. 1969-1971
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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