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2.101 Treffer

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    Electrochemical corrosion and electrochemical migration of 64Sn-35Bi-1Ag solder doping with xGe on printed circuit boards.
    Hua, L. ; Hou, H. N.
    In: Microelectron. Reliab., Jg. 75 (2017), S. 27-36
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    academicJournal
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    academicJournal
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    Microstructural evolution, non-Ohmic properties, and giant dielectric response in CaCu3Ti4− xGe xO12 ceramics.
    Boonlakhorn, Jakkree ; Thongbai, Prasit ; et al.
    In: Journal of the American Ceramic Society, Jg. 100 (2017-08-01), Heft 8, S. 3478-3487
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    academicJournal
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    Online academicJournal
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  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    E-tender For Shifting & Itc Of 125 Kva E|a From Main Auraiya To Main Xge Etawah And 40 Kva E|a Set From T.e Ajeetmal To T.e. Auraiya
    In: Mena Report, 2023-01-13
    Online Zeitungsartikel
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    An Electrical Analysis of a Metal-Interlayer-Semiconductor Structure on High-Quality S~1~−~xGe~x Films for Non-Alloyed Ohmic Contact
    Kim, Seung-Geun ; Kim, Gwang-Sik ; et al.
    In: Journal of nanoscience and nanotechnology, Jg. 17 (2017), Heft 10, S. 7323-7326
    serialPeriodical
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  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Simultaneously enhanced strength and ductility of Cu–xGe alloys through manipulating the stacking fault energy (SFE)
    Gong, Y.L. ; Wen, C.E. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering A, Jg. 569 (2013-05-01), S. 144-149
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    Étude structurale de Ca Ge N2 et Ca1˗xGe N2
    Maunaye, Marcel ; Guyader, Jean ; et al.
    In: Bulletin de la Société française de Minéralogie et de Cristallographie, Jg. 94 (1971), Heft 4, S. 347-352
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    Thermal stability of RE 5(Si xGe 1− x) 3 plates in RE 5(Si xGe 1− x) 4 alloys, where RE = Gd and Ho
    Cao, Q. ; Chumbley, L.S. ; et al.
    In: Intermetallics, Jg. 18 (2010), Heft 5, S. 1021-1026
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    1H NMR study of the hydrogen dynamics in the (NaS)xGe(OH)4 − x·yH2O ceramic proton conductors
    Shastri, A. ; Shane, D. ; et al.
    In: Solid State Ionics, Jg. 228 (2012-11-30), S. 46-55
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    A microstructural study of Sil-xGe epilayers, superlattices and MODFET structures grown by gas-source MBE
    Lee, Won Jae
    1997
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    View record in EThOS (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Structural chemistry and magnetic properties of RE2[Sn xGe 1− x] 5 ( RE = Nd, Sm) and RE[Sn xGe 1− x] 2 ( RE = Gd, Tb): Four new rare-earth metal intermetallic compounds with germanium zig-zag chains and tin square-nets
    Tobash, Paul H. ; Bobev, Svilen ; et al.
    In: Journal of Alloys and Compounds, Jg. 488 (2009), Heft 2, S. 511-517
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Thin films of the $$\alpha$$-quartz $$Si_xGe_{1-x}O_2$$ solid solution
    Zhou, Silang ; Antoja-Lleonart, Jordi ; et al.
    In: Scientific Reports, Jg. 12 (2022-02-07)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    An electron diffraction study of modulated Ni1+xGe B8 type phases
    LARSSON, A.-K ; WITHERS, R
    In: Journal of alloys and compounds, Jg. 264 (1998), S. 125-132
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    高い共鳴トンネル電流の正孔トンネル型Si₁₋xGe[x]/Si系2重量子井戸共鳴トンネルダイオード
    綾佳, 新川 ; 実, 脇谷 ; et al.
    In: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報, Jg. 116 (2016-07-01), Heft 158, S. 31-34
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    Field and temperature induced colossal strain in Gd 5(Si xGe 1− x) 4
    Hadimani, R.L. ; Bartlett, P.A. ; et al.
    In: Journal of Magnetism and Magnetic Materials, Jg. 323 (2011), Heft 5, S. 532-534
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    Evolution of SiGe nanoclusters and micro defects in the Si 1− xGe x layer fabricated by two-step ion implantation and subsequent thermal annealing
    Xu, Wenting ; Tu, Hailing ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 257 (2011), Heft 22, S. 9260-9263
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    Experimental and theoretical investigation of defects at (1 0 0) Si 1−xGe x/oxide interfaces
    Houssa, M. ; Pourtois, G. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 88 (2011), Heft 4, S. 383-387
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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