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879 Treffer

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    Parametric Study of Sawtooth Serration Geometry for Noise Reduction in HTOL Propellers
    Utomo, Budiman Apri ; Sugiana, Pande Nyoman Dharmayasa ; et al.
    In: 2023 IEEE International Conference on Aerospace Electronics and Remote Sensing Technology (ICARES), 2023-10-26, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Cu-Al IMC degradation under high electric fields during HTOL tests
    Mavinkurve, A. ; Rongen, R.T.H. ; et al.
    In: 2022 IEEE 72nd Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2022-05-01, S. 446-454
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Excellent RF Product HTOL reliability of 5G mmWave beamformer chip fabricated using GF 45RFSOI technologies
    Srinivasan, P. ; Guarin, F. ; et al.
    In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022-03-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Near-Field Analysis of VCSELs After HTOL Test
    Cheng, Hao-Tien ; Zhan, Taixian ; et al.
    In: 2022 Conference on Lasers and Electro-Optics Pacific Rim (CLEO-PR), 2022-07-31, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    HTOL SRAM Vmin shift considerations in scaled HKMG technologies
    Balasubramanian, S. ; Joshi, V. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2014 Custom Integrated Circuits Conference, 2014-09-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Schottky gate of AlGaN/GaN HEMTs: Investigation with DC and low frequency noise measurements after 7000 hours HTOL test
    Rzin, M. ; Curutchet, A. ; et al.
    In: 2015 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), 2015-06-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    serialPeriodical
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    SRAM HTOL Vccmin shift analysis for process control
    Chen, Xianfeng ; Li, Ming ; et al.
    In: 2016 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2016-03-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Tianjin Hirel Electronic Science andamp;amp; Technology Co., Ltd secures contract for Procurement of 0705-244004044059 HTGB?andamp;amp;?HTOL(2)
    In: Pivotal Sources, 2024-02-27
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Scenario-based set-level HTOL test (ASH III) for product quality and reliability qualifications on high-speed APs
    Park, Jongwoo ; Kim, Jeonghoon ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    HV PMOSFET VT shift suppression after HTOL by modified p-Hump prevention ion implant
    Lee, Kyenam ; Jang, Hyunho ; et al.
    In: 2015 IEEE 22nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2015-06-01, S. 358-361
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Study on influence of silicone encapsulant for ceramic LED package after HTOL test
    Kim, Jemin ; Ma, Byungjin ; et al.
    In: Proceedings of the 5th Electronics System-integration Technology Conference (ESTC), 2014-09-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A STUDY FOCUSING ON THE EFFECTS OF HTOL STRESS ON THE LUMINESCENCE SPECTRUM OF GAN DIODES TO CHARACTERIZE COMPONENT DEGRADATION
    2022
    Online Elektronische Ressource
    Zugriff:
    View this record from OAIster (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis of drain current transient stability of AlGaN/GaN HEMT stressed under HTOL & HTRB, by random telegraph noise and low frequency noise characterizations
    Tartarin, J.G. ; Lazar, O. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 114 (2020-11-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Systematical study of 14nm FinFET reliability: From device level stress to product HTOL
    Liu, Changze ; Sagong, Hyun-Chul ; et al.
    In: 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Employing transistor reliability testing as an FA tool for understanding HTOL product BIST failures
    Yassine, Abdullah ; Blair, Lauren ; et al.
    In: 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    HV PMOSFET Vth (threshold voltage) shift caused by HEIP after HTOL
    Kyenam, Lee ; Hyunho, Jang ; et al.
    In: Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013-07-01, S. 674-677
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Systematic reliability characterizations on Average Output Voltage (AVO) shift of Display Driver IC by HTOL
    Kim, Jungdong ; Kim, Donghun ; et al.
    In: 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014-06-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Demonstrating the ICeGaN integrated power HEMT approach towards extreme gate robustness
    Mukherjee, K. ; Efthymiou, L. ; et al.
    In: 2023 International Semiconductor Conference (CAS), 2023-10-11, S. 89-92
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Study on Dark-line Defect Formation in High-Power Oxide-Confined VCSEL Arrays
    Wang, Xiaoyan ; Pu, Jing ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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