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4.924 Treffer

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    EKV Model for Bulk-Driven Circuit Design Using gmb/ID Method
    Nagy, Lukas ; Arbet, Daniel ; et al.
    In: 2021 IEEE AFRICON, 2021-09-13, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    EKV MOS Transistor Model For Ultra Low-Voltage Bulk-Driven IC Design
    Nagyt, Lukas ; Arbet, Daniel ; et al.
    In: 2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2021-04-07, S. 6-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    SEKV-E: Parameter Extractor of Simplified EKV I-V Model for Low-Power Analog Circuits
    Han, H. ; D'Amico, A. ; et al.
    In: IEEE Open Journal of Circuits and Systems, Jg. 3 (2022), S. 162-167
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Study of linearity indices in analog/RF circuits using EKV model and comparing the results in three different CMOS processes
    Khademevatan, Gholamreza ; Jalali, Ali
    In: 2022 Iranian International Conference on Microelectronics (IICM), 2022-12-20, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    On the Explicit Saturation Drain Current in the Generalized EKV Compact MOSFET Model
    Garcia-Sanchez, F.J. ; Ortiz-Conde, A.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), Heft 10, S. 4813-4818
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS Pixel Potentials Extraction Method From Test Structures Based on EKV Model
    Doyen, C. ; Ricq, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), Heft 6, S. 2835-2840
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Parameter Extraction for a Simplified EKV-model in a 28nm FDSOI Technology
    Bajer, Konstantin ; Paul, Steffen ; et al.
    In: 2020 27th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and System (MIXDES), 2020-06-01, S. 45-49
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Comprehensive Design-oriented FDSOI EKV Model
    Han, Hung-Chi ; D'Amico, Antonio ; et al.
    In: 2022 29th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and System (MIXDES), 2022-06-23, S. 40-44
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    EKV Transistor Model For Ultra Low-Voltage Bulk-Driven Circuits
    Nagy, Lukas ; Arbet, Daniel ; et al.
    In: 2019 17th International Conference on Emerging eLearning Technologies and Applications (ICETA), 2019-11-01, S. 546-551
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    An Unified EKV MOSFET Model to Achieve Better Performance of Practical MOS Circuits Using Verilog-A
    Tantry, Shashidhar ; Sagar, B H ; et al.
    In: 2019 Global Conference for Advancement in Technology (GCAT), 2019-10-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    基于EKV评价框架的企业技术创新主体地位研究--以贵州省为例
    张彦红;钟君
    In: 科技管理研究 / Science and Technology Management Research, Jg. 41 (2021), Heft 1, S. 37
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Compact Model Adopting the EKV Model for a Silicon Vertical Power MOSFET
    Yan, Lixi ; Dong, Hao ; et al.
    In: 2021 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 2021-06-14, S. 2383-2388
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    FOSS EKV 2.6 parameter extractor
    Grabinski, Wladek ; Tomaszewski, Daniel ; et al.
    In: 2015 22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits & Systems (MIXDES), 2015-06-01, S. 181-186
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CE-II型EKV红外传感器性能分析
    康甜
    In: 红外技术 / Infrared Technology, Jg. 39 (2017), Heft 6, S. 495
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Cryogenic Modeling of MOSFET Device Based on BSIM and EKV Models
    Lu, Tengteng ; Zhang, Yuanke ; et al.
    Online report
    Zugriff:
    View this record from Arxiv (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design methodology of standard analog circuit block using EKV MOSFET model and validation using BSIM3v3 MOSFET model
    Singh, Kirmender
    In: 2015 International Conference on Signal Processing and Communication (ICSC), 2015-03-01, S. 318-323
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Simulation of total dose influence on analog-digital SOI/SOS CMOS circuits with EKV-RAD macromodel
    Petrosyants, K. O. ; Kharitonov, I. A. ; et al.
    In: East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2013), 2013-09-01, S. 1-6
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Adaptive EPFL-EKV long and short channel MOS device models for Qucs, SPICE and modelica circuit simulation
    Brinson, M.E. ; Nabijou, H.
    In: Proceedings of the 18th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems - MIXDES 2011, 2011-06-01, S. 65-70
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    EKV-based method for biasing CMOS analog cells using mUltiple-Inputs Floating Gate MOSFETs
    Medina-Vazquez, A. S. ; Meda-Campana, M. E. ; et al.
    In: 2012 International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2012-09-01, S. 89-92
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    SPICE Modelling of commercially availabe 1200V, 30mΩ MOSFET at different Temperatures for Static Characteristics
    Akbar, Ghulam ; Sutera, Dario ; et al.
    In: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024-04-07, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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