A 14-nm FinFET Logic CMOS Process Compatible RRAM Flash With Excellent Immunity to Sneak Path.

Hsieh, E. Ray ; Yen Chen Kuo ; et al.

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 4910-4918

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Titel:	A 14-nm FinFET Logic CMOS Process Compatible RRAM Flash With Excellent Immunity to Sneak Path.
Autor/in / Beteiligte Person:	Hsieh, E. Ray ; Yen Chen Kuo ; Cheng, Chih-Hung ; Jing Ling Kuo ; Jiang, Meng-Ru ; Lin, Jian-Li ; Chen, Hung-Wen ; Chung, Steve S. ; Liu, Chuan-Hsi ; Tse Pu Chen ; Shih An Huang ; Chen, Tai-Ju ; Cheng, Osbert
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 4910-4918
Veröffentlichung:	2017
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9383 (print)
DOI:	10.1109/TED.2017.2763960
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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