Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons.

Ratti, Lodovico ; Brogi, P. ; et al.

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-02-01), Heft 2, S. 567-574

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Titel:	Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons.
Autor/in / Beteiligte Person:	Ratti, Lodovico ; Brogi, P. ; Collazuol, G. ; Dalla Betta, G. F. ; Ficorella, A. ; Lodola, L. ; Marrocchesi, P. S. ; Mattiazzo, S. ; Morsani, F. ; Musacci, M. ; Pancheri, L. ; Vacchi, C.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-02-01), Heft 2, S. 567-574
Veröffentlichung:	2019
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9499 (print)
DOI:	10.1109/TNS.2019.2893233
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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