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Enhancing supervised bug localization with metadata and stack-trace.
In: Knowledge & Information Systems, Jg. 62 (2020-06-01), Heft 6, S. 2461-2484
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academicJournal
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Titel: |
Enhancing supervised bug localization with metadata and stack-trace.
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Autor/in / Beteiligte Person: | Wang, Yaojing ; Yao, Yuan ; Tong, Hanghang ; Huo, Xuan ; Li, Ming ; Xu, Feng ; Lu, Jian |
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Zeitschrift: | Knowledge & Information Systems, Jg. 62 (2020-06-01), Heft 6, S. 2461-2484 |
Veröffentlichung: | 2020 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0219-1377 (print) |
DOI: | 10.1007/s10115-019-01426-2 |
Sonstiges: |
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