5‐3: Experimental and Physics‐Based Analysis of Leakage Currents for LTPS TFTs in AMOLED Displays.

Kim, Keunwoo ; Kim, Hanbit ; et al.

In: SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 52 (2021-05-01), Heft 1, S. 37-40

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Titel:	5‐3: Experimental and Physics‐Based Analysis of Leakage Currents for LTPS TFTs in AMOLED Displays.
Autor/in / Beteiligte Person:	Kim, Keunwoo ; Kim, Hanbit ; Chu, Jaehwan ; Thanh, Tien Nguyen ; Lee, Jaeseob ; Lee, Dokyeong ; Kang, Meejae ; Kim, Doona ; Kim, Sangsub ; Sung, Bummo ; Kwak, Hyena ; Lee, Yongsu ; Kang, Taewook ; Chu, Hyeyong ; Lee, Changhee ; Kwag, Jinoh
Link:	Volltext (PDF)
Zeitschrift:	SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 52 (2021-05-01), Heft 1, S. 37-40
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0097-966X (print)
DOI:	10.1002/sdtp.14604
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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