7‐1: Distinguished Paper: Reliability Improvement of IGZO‐TFT in Hybrid Process with LTPS.

Aman, Mehadi ; Takeda, Yujiro ; et al.

In: SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 52 (2021-05-01), Heft 1, S. 57-60

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Titel:	7‐1: Distinguished Paper: Reliability Improvement of IGZO‐TFT in Hybrid Process with LTPS.
Autor/in / Beteiligte Person:	Aman, Mehadi ; Takeda, Yujiro ; Ito, Kazuatsu ; Yamamoto, Kaoru ; Tanaka, Kohei ; Matsukizono, Hiroshi ; Nakamura, Wataru ; Makita, Naoki
Link:	Volltext (PDF)
Zeitschrift:	SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 52 (2021-05-01), Heft 1, S. 57-60
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0097-966X (print)
DOI:	10.1002/sdtp.14609
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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