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Impact of Cu Pillar Bump Diameter and Solder Material on Reflow Soldering: A Computational Study with Thermal Fluid–Structure Interaction.

Lee, Jing Rou ; Abdul Aziz, Mohd Sharizal ; et al.
In: Journal of Electronic Materials, Jg. 53 (2024-03-01), Heft 3, S. 1201-1213
Online academicJournal

Titel:
Impact of Cu Pillar Bump Diameter and Solder Material on Reflow Soldering: A Computational Study with Thermal Fluid–Structure Interaction.
Autor/in / Beteiligte Person: Lee, Jing Rou ; Abdul Aziz, Mohd Sharizal ; Khor, Chu Yee ; Ishak, Mohammad Hafifi Hafiz ; Kamarudin, Roslan ; Ani, F. Che
Link:
Zeitschrift: Journal of Electronic Materials, Jg. 53 (2024-03-01), Heft 3, S. 1201-1213
Veröffentlichung: 2024
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0361-5235 (print)
DOI: 10.1007/s11664-023-10855-3
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source
  • Sprachen: English

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