Analysis of Fault Detection Probability of CMOS Combinational Circuits and Its Application to Signature Testing.

Iwasaki, Kazuhiko

In: Systems & Computers in Japan, Jg. 21 (1990-05-01), Heft 5, S. 29-38

Online academicJournal

Zugriff:

Volltext (PDF)

Titel:	Analysis of Fault Detection Probability of CMOS Combinational Circuits and Its Application to Signature Testing.
Autor/in / Beteiligte Person:	Iwasaki, Kazuhiko
Link:	Volltext (PDF)
Zeitschrift:	Systems & Computers in Japan, Jg. 21 (1990-05-01), Heft 5, S. 29-38
Veröffentlichung:	1990
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0882-1666 (print)
DOI:	10.1002/scj.4690210503
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

BibTeX Citavi, JabRef, u.a.
(Literaturverwaltung)

PDF kein Volltext!
(Merkzettel, Notizen)

RIS Endnote, Citavi u.a.
(Literaturverwaltung)

MODS
(XML zur Weiterverarbeitung)

oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

Gewünschter Zitations-Stil:

oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.