Reliability and Fault Tolerance of Ultra Low Voltage High Speed Differential CMOS.

Mirmotahari, Omid ; Berg, Yngvar

In: International MultiConference of Engineers & Computer Scientists 2009, 2009, S. 1479-1483

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Titel:	Reliability and Fault Tolerance of Ultra Low Voltage High Speed Differential CMOS.
Autor/in / Beteiligte Person:	Mirmotahari, Omid ; Berg, Yngvar
Link:	Volltext (PDF)
Zeitschrift:	International MultiConference of Engineers & Computer Scientists 2009, 2009, S. 1479-1483
Quelle:	International MultiConference of Engineers & Computer Scientists 2009; (2009) S. 1479-1483
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	Buch
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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