Nano-regime Length Scales Extracted from the First Sharp Diffraction Peak in Non-crystalline SiO2 and Related Materials: Device Applications.

Lucovsky, Gerald ; Phillips, James C.

In: Nanoscale Research Letters, Jg. 5 (2010-03-01), Heft 3, S. 550-558

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Titel:	Nano-regime Length Scales Extracted from the First Sharp Diffraction Peak in Non-crystalline SiO2 and Related Materials: Device Applications.
Autor/in / Beteiligte Person:	Lucovsky, Gerald ; Phillips, James C.
Link:	Volltext (PDF) View record at Springer (Volltext)
Zeitschrift:	Nanoscale Research Letters, Jg. 5 (2010-03-01), Heft 3, S. 550-558
Veröffentlichung:	2010
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1931-7573 (print)
DOI:	10.1007/s11671-009-9520-6
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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