Y2K testing: does success matter?
In: IEEE Spectrum, Jg. 36 (1999-07-01), Heft 7, S. 71-73
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academicJournal
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Y2K testing: does success matter?
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Autor/in / Beteiligte Person: | Comerford, Richard |
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Zeitschrift: | IEEE Spectrum, Jg. 36 (1999-07-01), Heft 7, S. 71-73 |
Veröffentlichung: | 1999 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0018-9235 (print) |
DOI: | 10.1109/6.774968 |
Sonstiges: |
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