Scaling CMOS: Finding the gate stack with the lowest leakage current.

Kauerauf, Thomas ; Govoreanu, Bogdan ; et al.

In: Solid-State Electronics, Jg. 49 (2005-05-01), Heft 5, S. 695-701

academicJournal

Titel:	Scaling CMOS: Finding the gate stack with the lowest leakage current.
Autor/in / Beteiligte Person:	Kauerauf, Thomas ; Govoreanu, Bogdan ; Degraeve, Robin
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen?
Zeitschrift:	Solid-State Electronics, Jg. 49 (2005-05-01), Heft 5, S. 695-701
Veröffentlichung:	2005
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0038-1101 (print)
DOI:	10.1016/j.sse.2005.01.018
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Applied Science & Technology Source Sprachen: English

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