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Thickness-dependent electronic structure in ultrathin LaNiO<subscript>3</subscript> films under tensile strain.

Hyang Keun Yoo ; Seung Ill Hyun ; et al.
In: Physical Review B, Jg. 93 (2016-01-15), Heft 3, S. 35141-1- (7S.)
academicJournal

Titel:
Thickness-dependent electronic structure in ultrathin LaNiO<subscript>3</subscript> films under tensile strain.
Autor/in / Beteiligte Person: Hyang Keun Yoo ; Seung Ill Hyun ; Young Jun Chang ; Moreschini, Luca ; Chang Hee Sohn ; Kim, Hyeong-Do ; Bostwick, Aaron ; Rotenberg, Eli ; Ji Hoon Shim ; Tae Won Noh
Zeitschrift: Physical Review B, Jg. 93 (2016-01-15), Heft 3, S. 35141-1- (7S.)
Veröffentlichung: 2016
Medientyp: academicJournal
ISSN: 2469-9950 (print)
DOI: 10.1103/PhysRevB.93.035141
Schlagwort:
  • ELECTRONIC structure
  • PHOTOELECTRON spectroscopy
  • SURFACE chemistry
  • BINDING energy
  • MEAN field theory
  • ELECTRONIC structure *
  • PHOTOELECTRON spectroscopy *
  • SURFACE chemistry *
  • BINDING energy *
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Academic Search Index
  • Sprachen: English

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