A PVT tolerant latch in a 90-nm CMOS and performances under AC noise.
In: International Journal of Electronics, Jg. 111 (2024), Heft 1, S. 86-104
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A PVT tolerant latch in a 90-nm CMOS and performances under AC noise.
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Autor/in / Beteiligte Person: | Kumar, Mithilesh ; Mondal, Abir J |
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Zeitschrift: | International Journal of Electronics, Jg. 111 (2024), Heft 1, S. 86-104 |
Veröffentlichung: | 2024 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0020-7217 (print) |
DOI: | 10.1080/00207217.2022.2148287 |
Sonstiges: |
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