Efficient tests for CMOS VLSI circuits.

Radhakrishnan, Damu ; Lai, Congmin

In: International Journal of Electronics, Jg. 71 (1991-07-01), Heft 1, S. 29-43

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Titel:	Efficient tests for CMOS VLSI circuits.
Autor/in / Beteiligte Person:	Radhakrishnan, Damu ; Lai, Congmin
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Zeitschrift:	International Journal of Electronics, Jg. 71 (1991-07-01), Heft 1, S. 29-43
Veröffentlichung:	1991
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0020-7217 (print)
DOI:	10.1080/00207219108925456
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Business Source Ultimate Sprachen: English

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