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Pulse Shape Measurements by On-Chip Sense Amplifiers of Single Event Transients Propagating Through a 90 nm Bulk CMOS Inverter Chain.

Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; et al.
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 6, S. 2778-2784
Online academicJournal

Titel:
Pulse Shape Measurements by On-Chip Sense Amplifiers of Single Event Transients Propagating Through a 90 nm Bulk CMOS Inverter Chain.
Autor/in / Beteiligte Person: Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; Dietrich, Horst ; Zimmermann, Horst ; Voss, Kay-Obbe ; Merk, Bruno ; Schmid, Ulrich ; Steininger, Andreas
Link:
Zeitschrift: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 6, S. 2778-2784
Veröffentlichung: 2012
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0018-9499 (print)
DOI: 10.1109/TNS.2012.2223233
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Business Source Ultimate
  • Sprachen: English

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