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Addressing Short Trapped-Flux Lifetime in High-Density Field-Reversed Configuration Plasmas in FRCHX.

Grabowski, Chris ; Degnan, James H. ; et al.
In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 42 (2014-04-15), Heft 5, S. 1179-1188
Online academicJournal

Titel:
Addressing Short Trapped-Flux Lifetime in High-Density Field-Reversed Configuration Plasmas in FRCHX.
Autor/in / Beteiligte Person: Grabowski, Chris ; Degnan, James H. ; Amdahl, David J. ; Domonkos, Matthew ; Ruden, Edward L. ; White, William ; Wurden, Glen A. ; Frese, Michael H. ; Frese, Sherry D. ; Camacho, Frank ; Coffey, Sean K. ; Kiuttu, Gerald F. ; Kostora, Mark ; McCullough, John ; Sommars, Wayne ; Lynn, Alan G. ; Yates, Kevin ; Bauer, Bruno S. ; Fuelling, Stephan ; Siemon, Richard E.
Link:
Zeitschrift: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 42 (2014-04-15), Heft 5, S. 1179-1188
Veröffentlichung: 2014
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0093-3813 (print)
DOI: 10.1109/TPS.2014.2305402
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Business Source Ultimate
  • Sprachen: English

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