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Single particle detection in CMOS compatible photonic crystal nanobeam cavities.

Quan, Q ; Floyd, DL ; et al.
In: Optics express, Jg. 21 (2013-12-30), Heft 26, S. 32225-33
Online academicJournal

Titel:
Single particle detection in CMOS compatible photonic crystal nanobeam cavities.
Autor/in / Beteiligte Person: Quan, Q ; Floyd, DL ; Burgess, IB ; Deotare, PB ; Frank, IW ; Tang, SK ; Ilic, R ; Loncar, M
Link:
Zeitschrift: Optics express, Jg. 21 (2013-12-30), Heft 26, S. 32225-33
Veröffentlichung: Washington, DC : Optica Publishing Group ; <i>Original Publication</i>: Washington, DC : Optical Society of America, 1997-, 2013
Medientyp: academicJournal
ISSN: 1094-4087 (electronic)
DOI: 10.1364/OE.21.032225
Schlagwort:
  • Equipment Design
  • Equipment Failure Analysis
  • Microfluidic Analytical Techniques instrumentation
  • Molecular Imaging instrumentation
  • Nanoparticles chemistry
  • Nanoparticles ultrastructure
  • Semiconductors
  • Surface Plasmon Resonance instrumentation
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: MEDLINE
  • Sprachen: English
  • Publication Type: Journal Article; Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S.
  • Language: English
  • [Opt Express] 2013 Dec 30; Vol. 21 (26), pp. 32225-33.
  • MeSH Terms: Semiconductors* ; Microfluidic Analytical Techniques / *instrumentation ; Molecular Imaging / *instrumentation ; Nanoparticles / *chemistry ; Nanoparticles / *ultrastructure ; Surface Plasmon Resonance / *instrumentation ; Equipment Design ; Equipment Failure Analysis
  • Entry Date(s): Date Created: 20140212 Date Completed: 20141020 Latest Revision: 20181023
  • Update Code: 20240513

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