Implementation and operation of a fiber-coupled CMOS detector in a low energy electron Microscope.

Janoschka, D ; Dreher, P ; et al.

In: Ultramicroscopy, Jg. 221 (2021-02-01), S. 113180

academicJournal

The intrinsically weak signals in ultrafast electron microscopy experiments demand an improvement in the signal-to noise ratio of suitable electron detectors. We provide an experience report describing the installation and operation of a fiber-coupled CMOS based detector in a low energy electron microscope. We compare the detector performance to the traditional multi-channel-plate-based setup. The high dynamic range CMOS detector is capable of imaging spatially localized large intensity variations with low noise. The detector is blooming-free and overexposure appears uncritical. Overall, we find dramatic improvements in the imaging with the fiber-coupled CMOS detector compared to imaging with our previously used multi-channel-plate detector.

Titel:	Implementation and operation of a fiber-coupled CMOS detector in a low energy electron Microscope.
Autor/in / Beteiligte Person:	Janoschka, D ; Dreher, P ; Rödl, A ; Franz, T ; Schaff, O ; Horn-von Hoegen, M ; Meyer Zu Heringdorf, FJ
Zeitschrift:	Ultramicroscopy, Jg. 221 (2021-02-01), S. 113180
Veröffentlichung:	Amsterdam : Elsevier ; <i>Original Publication</i>: Amsterdam, North-Holland., 2021
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1879-2723 (electronic)
DOI:	10.1016/j.ultramic.2020.113180
Sonstiges:	Nachgewiesen in: MEDLINE Sprachen: English Publication Type: Journal Article Language: English [Ultramicroscopy] 2021 Feb; Vol. 221, pp. 113180. <i>Date of Electronic Publication: </i>2020 Nov 27. Contributed Indexing: Keywords: CMOS-detector; Image detection; LEEM; MCP-detector; PEEM Entry Date(s): Date Created: 20201208 Latest Revision: 20210125 Update Code: 20231215

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