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Determining Y-STR mutation rates in deep-routing genealogies: Identification of haplogroup differences.

Claerhout, Sofie ; Vandenbosch, Michiel ; et al.
In: Forensic Science International: Genetics, Jg. 34 (2018-05-01), S. 1-10
academicJournal

Titel:
Determining Y-STR mutation rates in deep-routing genealogies: Identification of haplogroup differences.
Autor/in / Beteiligte Person: Claerhout, Sofie ; Vandenbosch, Michiel ; Nivelle, Kelly ; Gruyters, Leen ; Peeters, Anke ; Larmuseau, Maarten H.D. ; Decorte, Ronny
Zeitschrift: Forensic Science International: Genetics, Jg. 34 (2018-05-01), S. 1-10
Veröffentlichung: 2018
Medientyp: academicJournal
ISSN: 1872-4973 (print)
DOI: 10.1016/j.fsigen.2018.01.005
Schlagwort:
  • SHORT tandem repeat analysis
  • GENETIC mutation
  • Y chromosome
  • GENEALOGY
  • FORENSIC genetics
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Supplemental Index
  • Sprachen: English

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