Internal-Distributed CDM ESD Protection

Pan, Zijin ; Li, Cheng ; et al.

In: 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021-04-08

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CDM ESD protection is a major ESD protection design challenge for advanced ICs, often suffering from random design failures. It was recently reported that the traditional pad-based CDM ESD protection method is fundamentally faulty, contributing to design uncertainties in CDM ESD testing and field failures. This paper reports a novel internally distributed CDM ESD protection method to overcome this major design challenge, which was validated using an internal-CDM-protected oscillator IC implemented in a foundry 45nm SPO CMOS technology. (Keywords: ESD, CDM, SOI, VFTLP, distributed)

Titel:	Internal-Distributed CDM ESD Protection
Autor/in / Beteiligte Person:	Pan, Zijin ; Li, Cheng ; Wang, Albert ; Di, Mengfu
Link:	View record in OpenAIRE (Volltext) https://doi.org/10.1109/edtm50988.2021.9421054
Zeitschrift:	2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021-04-08
Veröffentlichung:	IEEE, 2021
Medientyp:	unknown
DOI:	10.1109/edtm50988.2021.9421054
Schlagwort:	010302 applied physics Computer science 020208 electrical & electronic engineering Silicon on insulator Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY 02 engineering and technology Integrated circuit 01 natural sciences law.invention CMOS law 0103 physical sciences Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering Electronic engineering Hardware_LOGICDESIGN
Sonstiges:	Nachgewiesen in: OpenAIRE Rights: CLOSED

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