Zum Hauptinhalt springen

Built-in-self-test for the Tandem NonStop CLX processor

Garcia, D.J.
In: Digest of Papers. COMPCON Spring 88 Thirty-Third IEEE Computer Society International Conference, 1988
Online unknown

Titel:
Built-in-self-test for the Tandem NonStop CLX processor
Autor/in / Beteiligte Person: Garcia, D.J.
Link:
Zeitschrift: Digest of Papers. COMPCON Spring 88 Thirty-Third IEEE Computer Society International Conference, 1988
Veröffentlichung: IEEE, 1988
Medientyp: unknown
DOI: 10.1109/cmpcon.1988.4922
Schlagwort:
  • Pseudorandom number generator
  • business.industry
  • Computer science
  • Logic family
  • Test compression
  • Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY
  • NonStop
  • CMOS
  • Built-in self-test
  • Embedded system
  • Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS
  • Static random-access memory
  • business
  • Control logic
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: OPEN

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -