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LCC — The implications on internal data collection

Darch, M.B.
In: Microelectronics Reliability, Jg. 17 (1978), S. 25-29
Online unknown

Titel:
LCC — The implications on internal data collection
Autor/in / Beteiligte Person: Darch, M.B.
Link:
Zeitschrift: Microelectronics Reliability, Jg. 17 (1978), S. 25-29
Veröffentlichung: Elsevier BV, 1978
Medientyp: unknown
ISSN: 0026-2714 (print)
DOI: 10.1016/0026-2714(78)91132-0
Schlagwort:
  • Structure (mathematical logic)
  • Engineering
  • Data collection
  • Operations research
  • business.industry
  • Condensed Matter Physics
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • Prime (order theory)
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Information system
  • Life cycle costing
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Safety, Risk, Reliability and Quality
  • business
  • Engineering design process
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: CLOSED

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