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Thermal stress analysis for a CMOS-MEMS microphone with various metallization and materials

Yeh, Meng-Kao ; Lu, Chun-Lin
In: Microelectronic Engineering, Jg. 213 (2019-05-01), S. 47-54
Online unknown

Titel:
Thermal stress analysis for a CMOS-MEMS microphone with various metallization and materials
Autor/in / Beteiligte Person: Yeh, Meng-Kao ; Lu, Chun-Lin
Link:
Zeitschrift: Microelectronic Engineering, Jg. 213 (2019-05-01), S. 47-54
Veröffentlichung: Elsevier BV, 2019
Medientyp: unknown
ISSN: 0167-9317 (print)
DOI: 10.1016/j.mee.2019.04.013
Schlagwort:
  • 010302 applied physics
  • Microelectromechanical systems
  • Materials science
  • Microphone
  • Diaphragm (acoustics)
  • Delamination
  • Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY
  • 02 engineering and technology
  • Temperature cycling
  • 021001 nanoscience & nanotechnology
  • Condensed Matter Physics
  • 01 natural sciences
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Stress (mechanics)
  • CMOS
  • Hardware_GENERAL
  • 0103 physical sciences
  • Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Composite material
  • 0210 nano-technology
  • Stress concentration
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: CLOSED

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