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Heterogeneous Defect Prediction via Exploiting Correlation Subspace

Yuan, Mengting ; Wan, Hongyan ; et al.
In: International Conferences on Software Engineering and Knowledge Engineering, 2016-07-01
Online unknown

Titel:
Heterogeneous Defect Prediction via Exploiting Correlation Subspace
Autor/in / Beteiligte Person: Yuan, Mengting ; Wan, Hongyan ; Cheng, Ming ; Wu, Guoqing ; You, Guoan ; Jiang, Min
Link:
Zeitschrift: International Conferences on Software Engineering and Knowledge Engineering, 2016-07-01
Veröffentlichung: KSI Research Inc. and Knowledge Systems Institute Graduate School, 2016
Medientyp: unknown
ISSN: 2325-9000 (print)
DOI: 10.18293/seke2016-090
Schlagwort:
  • Training set
  • Computer science
  • Feature vector
  • 020207 software engineering
  • 02 engineering and technology
  • computer.software_genre
  • Correlation
  • Support vector machine
  • Software bug
  • 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering
  • 020201 artificial intelligence & image processing
  • Data mining
  • Canonical correlation
  • Classifier (UML)
  • computer
  • Subspace topology
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: OPEN

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